 חברת Jtag Technologies המתמחה בפתרונות בדיקה בטכנולוגית
ה- Boundary Scan, הרחיבה לאחרונה את יכולות הבדיקה והצריבה
של כלי החומרה והתוכנה שלה בכדי שיכללו גם משפחות של רכיבי
זיכרון טוריים במגוון פרוטוקולים.
כתוצאה מכך מהנדסי פיתוח ומהנדסי בדיקה ייהנו ממגוון גדול
יותר של אפליקציות (בדיקות וצריבות) חשובות ברמת המעגל.
יכולות אלו מבוססות על מערכות התוכנה והחומרה הקיימות
ל- JTAG על תשתית ותכנון נכון של ה-Boundary Scan ברמת
המעגל.
בנוסף לתפוקה גבוהה, מהירות ודיוק בבדיקת מעגלים חשמליים,
צריבות רכיבי FLASH וטעינות רכיבי PLD משתמשי מערכת של
Jtag Technologies יכולים לבצע כיום צריבות ברמת המעגל של
רכיבי EEPROM, Serial Flash, ורכיבי טעינת FPGA - דרך רכיבי
ה- boundary Scan הסטנדרטיים.
הפרוטוקולים הנתמכים למטרות אלו הם:
I2C (Inter-Integrated Circuit), SPI (Serial Peripheral
Interface) ו- MicroWire.
|
