 מערכת ה- CIS-50 מותאמת למדידת חלקיקים בתחום גודל של 0.5-1200
מיקרון. המערכת משלבת שני ערוצי- מדידה: לייזר ווידאו אשר
יחדיו מספקים מידע נרחב על פילוג הגודל ומאפייני הצורה
( shape factor, aspect ratio, average ferret ועוד) של החלקיקים הנמדדים.
היכולת לראות את החלקיקים בזמן המדידה מאפשרת בקרה על אופן
הכנת הדוגמא, מעקב אחר היווצרות אגרגטים, הימצאות מזהמים
ועוד. ניתן לשמור את תמונות החלקיקים ולהדפיסן.
קונפיגורציית המערכת מודולרית ומותאמת לצורכי הלקוח: ניתן
לבחור בין מדידה רטובה-כשהחלקיקים מורחפים בנוזל לבין מדידה
יבשה, בה החלקיקים מפוזרים על גבי שקף.
|
